Microscope Electronique à Balayage à Effet de Champ Zeiss ULTRA Plus
Microscope Electronique à Balayage à Effet de Champ Zeiss ULTRA Plus

Microscope Electronique à Balayage à Effet de Champ Zeiss ULTRA Plus

Sonde d’analyse EDS (détecteur SDD) et logiciels SAMx : analyse élémentaire, quantification, cartographie spectrale.

Système de cryopréparation/cryotransfert GATAN ALTO 2500.

Financement Région Centre et FEDER

Related Listing

Cet équipement se trouve sur la plateforme :

Plateforme de Microscopie

Generic selectors
Correspondance exacte uniquement
Rechercher dans le titre
Recherche dans le contenu de la page
Post Type Selectors
rtcl_listing
rtcl_cfg
rtcl_cf
Filtrer par catégories